1971-1975-ci illərdə İranın paytaxtı Tehran şəhərindəki Alborz Ali Məktəbində təhsil almışdır. Mehdi Vaez-İrəvani doktorantura təhsilini London Universitet Kollecində almış və KLA Tenkora qoşulmamışdan əvvəl Roçester Texnologiya İnistitutunda dərs deməyə başlamışdır.
Onun optika, optikal mühəndislik və bununla əlaqəli bir çox sahələrdə çox saylı patentləri və nəşr edilmiş məqalələri mövcuddur.
Seçilmiş biblioqrafiya
Vaez-Iravani, Mehdi, ed. (30 March 1995). Scanning Probe Microscopies III (Proceedings Volume). Scanning Probe Microscopies III. 2384. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics. ISBN978-0-8194-1731-2. OCLC 57388570.
Vaez-Iravani, Mehdi; Toledo-Crow, Ricardo; Ade, Harald; və b. (30 Mar 1995). Near-field microscopy of thin films: application to polymeric structures. Scanning Probe Microscopies III. Proceedings. 2384. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). səh. 166. doi:10.1117/12.205926. ISSN 0361-0748. OCLC 201621977.
Toledo-Crow, Ricardo; Smith, Bruce W.; Rogers, Jon K.; Vaez-Iravani, Mehdi (1 May 1994). Bennett, Marylyn H (ed.). Near-field optical microscopy characterization of IC metrology (Proceedings Paper). Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIII. Proceedings. 2196. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). səh. 62. doi:10.1117/12.174165. ISSN 0361-0748. OCLC 703607580.
Toledo-Crow, Ricardo; Vaez-Iravani, Mehdi; Smith, Bruce W.; Summa, Joseph R. (4 August 1993). Postek, Michael T. (ed.). Characterization of atomic force microscopy and electrical probing techniques for IC metrology. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VII. Proceedings. 1926. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 357–368. doi:10.1117/12.148946. ISSN 0361-0748. OCLC 563909391.
Vaez-Iravani, Mehdi; Nonnenmacher, M.; Wickramasinghe, H. Kumar (1 August 1993). "Detection of high- and low-frequency vibrations using a feedback-stabilized differential fiber optic interferometer". Optical Engineering. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 32 (8): 1879–1882. doi:10.1117/12.143338. ISSN 0091-3286. OCLC 196617649.
Fillard, J. P. (January 1996). Near field optics and nanoscopy. World Scientific. 359–362. ISBN978-981-02-2349-6. İstifadə tarixi: 2 April 2011.
Ducloy, M.; Bloch, Daniel (1996). Quantum optics of confined systems. Springer. səh. 311. ISBN978-0-7923-3974-8. İstifadə tarixi: 2 April 2011.
Avqust 25, 2021
mehdi, vaez, irəvani, əslən, irəvan, şəhərindən, olan, iran, azərbaycanlısı, adamı, ixtiraçı, mühəndis, mündəricat, həyatı, seçilmiş, biblioqrafiya, həmçinin, istinadlarhəyatı, redaktə1971, 1975, illərdə, iranın, paytaxtı, tehran, şəhərindəki, alborz, məktəbin. Mehdi Vaez Irevani eslen Irevan seherinden olan Iran azerbaycanlisi elm adami ixtiraci ve muhendis 1 2 Mundericat 1 Heyati 2 Secilmis biblioqrafiya 3 Hemcinin bax 4 IstinadlarHeyati Redakte1971 1975 ci illerde Iranin paytaxti Tehran seherindeki Alborz Ali Mektebinde tehsil almisdir Mehdi Vaez Irevani doktorantura tehsilini London Universitet Kollecinde almis ve KLA Tenkora qosulmamisdan evvel Rocester Texnologiya Inistitutunda ders demeye baslamisdir Onun optika optikal muhendislik ve bununla elaqeli bir cox sahelerde cox sayli patentleri ve nesr edilmis meqaleleri movcuddur Secilmis biblioqrafiya RedakteVaez Iravani Mehdi ed 30 March 1995 Scanning Probe Microscopies III Proceedings Volume Scanning Probe Microscopies III 2384 Bellingham WA USA International Society for Optics and Photonics ISBN 978 0 8194 1731 2 OCLC 57388570 Vaez Iravani Mehdi Toledo Crow Ricardo Ade Harald ve b 30 Mar 1995 Near field microscopy of thin films application to polymeric structures Scanning Probe Microscopies III Proceedings 2384 Bellingham WA USA International Society for Optics and Photonics SPIE seh 166 doi 10 1117 12 205926 ISSN 0361 0748 OCLC 201621977 Toledo Crow Ricardo Smith Bruce W Rogers Jon K Vaez Iravani Mehdi 1 May 1994 Bennett Marylyn H ed Near field optical microscopy characterization of IC metrology Proceedings Paper Integrated Circuit Metrology Inspection and Process Control VIII Proceedings 2196 Bellingham WA USA International Society for Optics and Photonics SPIE seh 62 doi 10 1117 12 174165 ISSN 0361 0748 OCLC 703607580 Toledo Crow Ricardo Vaez Iravani Mehdi Smith Bruce W Summa Joseph R 4 August 1993 Postek Michael T ed Characterization of atomic force microscopy and electrical probing techniques for IC metrology Integrated Circuit Metrology Inspection and Process Control VII Proceedings 1926 Bellingham WA USA International Society for Optics and Photonics SPIE 357 368 doi 10 1117 12 148946 ISSN 0361 0748 OCLC 563909391 Vaez Iravani Mehdi Nonnenmacher M Wickramasinghe H Kumar 1 August 1993 Detection of high and low frequency vibrations using a feedback stabilized differential fiber optic interferometer Optical Engineering Bellingham WA USA International Society for Optics and Photonics SPIE 32 8 1879 1882 doi 10 1117 12 143338 ISSN 0091 3286 OCLC 196617649 Hemcinin bax RedakteIran azerbaycanlilariIstinadlar Redakte Fillard J P January 1996 Near field optics and nanoscopy World Scientific 359 362 ISBN 978 981 02 2349 6 Istifade tarixi 2 April 2011 Ducloy M Bloch Daniel 1996 Quantum optics of confined systems Springer seh 311 ISBN 978 0 7923 3974 8 Istifade tarixi 2 April 2011 Menbe https az wikipedia org w index php title Mehdi Vaez Irevani amp oldid 5680194, wikipedia, oxu, kitab, kitabxana, axtar, tap, hersey,
ne axtarsan burda
, en yaxsi meqale sayti, meqaleler, kitablar, oyrenmek, wiki, bilgi, tarix, seks, porno, indir, yukle, sex, azeri sex, azeri, seks yukle, sex yukle, izle, seks izle, porno izle, mobil seks, telefon ucun, chat, azeri chat, tanisliq, tanishliq, azeri tanishliq, sayt, medeni, medeni saytlar, chatlar, mekan, tanisliq mekani, mekanlari, yüklə, pulsuz, pulsuz yüklə, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, şəkil, muisiqi, mahnı, kino, film, kitab, oyun, oyunlar.
